产品目录
- 分光测色计
- 锁相放大器
- 毫微表/微欧表
- 皮安计/静电计/高阻表
- 其他
- 高阻测试仪
- 皮套
- 微波分析仪
- 频谱分析仪(信号分析仪)
- 信号源/信号发生器
- 数字示波器
- 网络分析仪
- 网络/频谱/阻抗分析仪
- 示波器
- 阻抗分析仪
- 数字万用表
- 信号发生器
- 多功能校准仪
- 耐压测试仪
- 蓝牙、WiFi、GPS测试仪
- 电源测量单元
- 交流电源
- 脉冲函数任意噪声发生器
- 脉冲码型发生器
- 静电信号发生器
- 测试接收机
- 电视信号发生器
- 电能质量分析仪
- 波形发生器合成模块
- 可编程交流电源
- 电子负载
- 直流电源
- 函数/任意波形发生器
- 耐压绝缘电阻测试仪
- 电池测试仪
- 光示波器
- LCR电桥
- 示波器校准器
- 万用表校准仪
- 无线综合测试仪
- EMI 接收机
- 雷击浪涌发生器
- 静电放电模拟试验器
- 半导体测试仪
- 天馈线/驻波比测试仪
- 雷击浪涌耦合/去耦
- 直流电子负载
- 光功率计
- 音频分析仪
- 手持式矢量网络综合分析仪
- 放大器
- 脉冲群发生器/模拟试验器
- 探头
- 程控电源
- 电流探头
- 晶体管测试仪
- 数字源表
- 静电放电发生器
- 视频分析仪
- 安规综合测试仪
- 波形发生器
- 夹具/治具
- 动态分析仪
- 频率计
- 无线网络测试仪
- 校准仪
- 光源模块
- 毫欧表|高阻计|高阻测试仪
- 示波器探头
- 函数信号发生器
- 功率计/功率分析仪/功率传感器
- 无线网络多路测试仪
- 混合信号示波器
- 纳伏表/微欧表
- 手持频谱分析仪
- 光波长计
- 接收机
- 色度计/亮度计/色彩分析仪
- 铷钟/频率标准
- 信号源分析仪
- 皮安表
- 热成像仪
- 噪声源/噪声分析仪
- 功率传感器
- 光频谱分析仪
- 电源
- 信号图形产生器
- 测试仪
- 校准件
- GPIB卡/线
- 基站测试仪
- 数据采集仪/采集卡
- 电阻计
- 可视红外测温仪
- 其他仪器仪表
- 无线连接测试仪
- 脉冲信号发生器
- 直流电源分析仪
- 光功率探头
- 高电阻静电计
- 波形分析仪
- 电时钟恢复
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产品详情
简单介绍:
销售Agilent/安捷伦E4991A射频阻抗/材料分析仪E4990A
详情介绍:
东莞市科信电子仪器创立于2014年。公司成立伊始便致力于为国内电子产品制造业、**通信企业、电子产品科研-单位、高等院校、企事业单位提供技术服务、产品服务及解决方案。长期销售、租赁、维修、回收各类进口**电子测量仪器,欢迎来电,上门看货!并提供学校,灾区优惠价格。
业务范围
公司为航天与防务、雷达和组件、自动驾驶与新能源、集成电路、无线通信基站、智能终端设备等电子和高科技行业提供技术和设备支持。
为了解决客户的后顾之忧我们还特设了以下服务
1、仪器使用及技术咨询;
2、测试方案及仪器选型;
3、专业维修及计量检定;

业务范围
公司为航天与防务、雷达和组件、自动驾驶与新能源、集成电路、无线通信基站、智能终端设备等电子和高科技行业提供技术和设备支持。
为了解决客户的后顾之忧我们还特设了以下服务
1、仪器使用及技术咨询;
2、测试方案及仪器选型;
3、专业维修及计量检定;
4、各种仪器的销售和租赁服务。
一、核心性能参数
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测量范围与精度
- 频率范围:1 MHz 至 3 GHz,分辨率达 1 mHz。
- 基本阻抗精度:±0.8%。
- 高Q值精度:支持低损耗元器件分析。
- 测试信号:可调范围100 μV 至 2 Vrms 或 1 μA 至 20 mA。
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扫描与偏置能力
- 振荡器电平:*高 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms。
- DC偏置(选件E4991A-001):±40 V 或 ±50 mA。
- 支持201点可编程列表扫描。
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特殊测量能力
- 低ESR(等效串联电阻)测量:稳定性高,适用于高速/低功耗电路电容器。
- 高阻抗测量:可稳定测量飞法(fF)级电容。

二、关键功能特性
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分析技术
采用射频电流-电压(RF-IV)技术,非反射测量,在宽阻抗范围内提供更**结果。 -
扩展选件
- 材料分析(E4991A-002):1 MHz–1 GHz频段的介电/磁性材料特性测量。
- 晶圆测量(E4991A-010):支持探针台连接,实现晶圆级阻抗测试。
- 温度特性套件(E4991A-007):-55°C至+150°C宽温区分析,带温度漂移补偿。
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操作与接口
- Windows风格用户界面,内置VBA编程功能。
- 支持LAN数据传输。
三、典型应用场景
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元器件研发
适用于电容器、电感器等无源元件在3 GHz内的阻抗参数测试。 -
材料科学
测量固体材料的介电常数、磁导率及损耗角(如半导体晶片、磁性材料)。 -
温度依赖性分析
通过选件E4991A-007评估元器件或材料在极端温度下的性能变化。

